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Mueller-Reichert Electron Microscopy of Model Systems
1. Auflage 2010Verlag: Elsevier Science & Techn.ISBN: 978-0-12-381008-3Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark126,00 € (inkl. MwSt.)
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Correlative Light and Electron Microscopy
Erscheinungsjahr 2012Verlag: Academic PressISBN: 978-0-12-416026-2Medium: BuchLieferzeit ca. 10 Werktage
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