Ergebnisse filtern
-
- 1
-
- 1
-
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
-
- 1
-
- 1
-
- 1
-
- 1
-
- 1
Elektronik | Nachrichtentechnik
-
Yeung / Kwok / Fred Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition
Joint IAPR International Workshops, SSPR 2006 and SPR 2006, Hong Kong, China, August 17-19, 2006, Proceedings1. Auflage 2006Verlag: SpringerISBN: 978-3-540-37236-3Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
Ist Ihr gesuchter Titel nicht Teil der Ergebnisse? Dann nutzen Sie unser Kontaktformular
Bitte ändern Sie das Passwort