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Maschinenbau
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Nanolithography and Surface Microscopy with Electron Beams
Erscheinungsjahr 2024Verlag: Elsevier Science & TechnologyISBN: 978-0-443-31462-9Medium: BuchLieferzeit ca. 10 Werktage -
Advances in Optics of Charged Particle Analyzers: Part 1
Erscheinungsjahr 2024Verlag: Elsevier Science & TechnologyISBN: 978-0-443-29786-1Medium: Buchvorbestellbar -
Advances in Optics of Charged Particle Analyzers: Part 2
Erscheinungsjahr 2025Verlag: Elsevier Science & TechnologyISBN: 978-0-443-31720-0Medium: Buchvorbestellbar
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