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Materialwissenschaft: Elektronik, Optik
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Yamada-Kaneta / Sakai Defects-Recognition, Imaging and Physics in Semiconductors XIV
Erscheinungsjahr 2012Verlag: Trans Tech PublicationsISBN: 978-3-03795-261-0Medium: SonstigesLieferzeit ca. 10 Werktage -
Yamada-Kaneta / Sakai Defects-Recognition, Imaging and Physics in Semiconductors XIV
Erscheinungsjahr 2012Verlag: Trans Tech PublicationsISBN: 978-3-03785-442-6Medium: BuchLieferzeit ca. 10 Werktage -
Yamada-Kaneta / Sakai Defects-Recognition, Imaging and Physics in Semiconductors XIV
Erscheinungsjahr 2012Verlag: Trans Tech PublicationsISBN: 978-3-03813-856-3Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 0 - No protection206,51 € (inkl. MwSt.)
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