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Simoen / Claeys Metal Impurities in Silicon- and Germanium-Based Technologies
Origin, Characterization, Control, and Device Impact1. Auflage 2018Verlag: Springer International PublishingISBN: 978-3-319-93924-7Medium: Buch181,89 € (inkl. MwSt.)
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Simoen / Claeys Extended Defects in Germanium
Fundamental and Technological AspectsSoftcover Nachdruck of hardcover 1. Auflage 2009Verlag: SpringerISBN: 978-3-642-09921-2Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Simoen / Claeys Extended Defects in Germanium
Fundamental and Technological Aspects2009Verlag: Springer Berlin HeidelbergISBN: 978-3-540-85611-5Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
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Simoen / Claeys Metal Impurities in Silicon- and Germanium-Based Technologies
Origin, Characterization, Control, and Device ImpactSoftcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2018Verlag: Springer International PublishingISBN: 978-3-030-06747-2Medium: Buch181,89 € (inkl. MwSt.)
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Claeys / Simoen Germanium-Based Technologies
From Materials to DevicesErscheinungsjahr 2007Verlag: Elsevier ScienceISBN: 978-0-08-044953-1Medium: Buch213,50 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
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Simoen / Claeys Random Telegraph Signals in Semiconductor Devices
Erscheinungsjahr 2016Verlag: Institute of Physics PublishingISBN: 978-0-7503-1272-1Medium: eBookFormat: EPUB
Kopierschutz: 0 - No protection162,99 € (inkl. MwSt.)
sofort verfügbar
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Claeys / Simoen Metal Impurities in Silicon- and Germanium-Based Technologies
Origin, Characterization, Control, and Device Impact1. Auflage 2018Verlag: Springer International PublishingISBN: 978-3-319-93925-4Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark171,19 € (inkl. MwSt.)
sofort verfügbar
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Claeys / Simoen Germanium-Based Technologies
From Materials to Devices1. Auflage 2011Verlag: Elsevier Science & Techn.ISBN: 978-0-08-047490-8Medium: eBookFormat: EPUB
Kopierschutz: 6 - ePub Watermark149,00 € (inkl. MwSt.)
sofort verfügbar
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Claeys / Simoen Extended Defects in Germanium
Fundamental and Technological Aspects2009Verlag: SpringerISBN: 978-3-540-85614-6Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark149,79 € (inkl. MwSt.)
sofort verfügbar
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Richter / Kittler / Claeys Gettering and Defect Engineering in Semiconductor Technology VI
Erscheinungsjahr 1995Verlag: Trans Tech PublicationsISBN: 978-3-03859-977-7Medium: SonstigesLieferzeit ca. 10 Werktage -
Richter / Kittler / Claeys Gettering and Defect Engineering in Semiconductor Technology VI
Erscheinungsjahr 1995Verlag: Trans Tech PublicationsISBN: 978-3-0357-0661-1Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 0 - No protection211,86 € (inkl. MwSt.)
sofort verfügbar
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Claeys / Vanhellemont / Richter Gettering and Defect Engineering in Semiconductor Technology VII
Erscheinungsjahr 1997Verlag: Trans Tech PublicationsISBN: 978-3-0357-0671-0Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 0 - No protection211,86 € (inkl. MwSt.)
sofort verfügbar
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Claeys / Vanhellemont / Richter Gettering and Defect Engineering in Semiconductor Technology VII
Erscheinungsjahr 1997Verlag: Trans Tech PublicationsISBN: 978-3-03859-987-6Medium: SonstigesLieferzeit ca. 10 Werktage -
Gutierrez-D / Deen / Claeys Low Temperature Electronics
Physics, Devices, Circuits, and ApplicationsErscheinungsjahr 2000Verlag: Elsevier Science & Techn.ISBN: 978-0-08-051050-7Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark350,00 € (inkl. MwSt.)
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